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奧林巴斯顯微鏡

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測定物體顏色

根據反射率數(shù)據顯示XY色度圖、L*a*b*色度圖及相關數(shù)值。

測定透過率　(選配)

從受臺下部透過Ø2mm的平行光，測定平面樣品的透過率。

透過率測定光路圖

測定入射角為45度的反射率（選配）

從側面向45度面反射Ø2mm的平行光，測定其反射率。

45度反射率測定光路圖

域的高精度&高速測定

光學系圖	實現(xiàn)高速測定使用平面光柵及線傳感器進行全波長同時分光測定，從而實現(xiàn)高速測定。

反射率測定圖例

十分適用于測定細小部件、鏡片的反射率

新設計了可以在Ø17~70μm的測定區(qū)域中進行非接觸測定的專用物鏡。通常的分光光度計不能進行測定的細小電子部件或鏡片等的曲面，也可以實現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。

消除背面反射光的原理

測定反射率時，不需要背面防反射處理

將專用物鏡與環(huán)形照明組合，不需要進行被檢測物背面的防反射處理，就可測定*薄0.2mm的反射率*。*使用40×物鏡時，在本公司的測定條件下進行測定。

可選擇的膜厚測定方法

根據測定的分光反射率數(shù)據進行單層膜或多層膜的膜厚解析?？梢愿鶕猛具x擇*佳的測定方法。

峰谷法膜厚解析經過信息圖例

峰谷法

這是一種根據測定的分光反射率值的峰值與低谷的周期性計算出膜厚的方法，對于測定單層膜是有效的。不需要復雜的設置，可以簡單地求出。

傅里葉轉換法膜厚解析經過信息圖例

傅里葉轉換法

這是一種根據測定的分光反射率值的周期性計算膜厚的方法，對于單層膜及多層膜的測定有效。難以檢測出峰值及低谷等時，可以幾乎不受噪音的影響進行解析。

曲線調整法膜厚解析經過信息圖例

曲線調整法

這是一種通過推算測定的分光反射率值與根據某種膜構造計算的反射率的差達到*小的構造計算出膜厚的方法，對于單層膜及多層膜的測定有效。還可以進行不會出現(xiàn)峰值及低谷的薄膜解析。

多樣化應用

高速、高精度地應對多樣化測定需求。

通過測定球面、非球面的鏡片、濾鏡、反射鏡等光學元件的反射率，進行涂層評價、物體顏色測定、膜厚測定。

數(shù)碼相機鏡片
投影儀鏡片
光讀取頭鏡片
眼鏡片

適用于LED反射鏡、半導體基板等微小電子部件的反射率測定、膜厚測定。

LED包裝
半導體基板

適用于平面光學元件、彩色濾鏡、光學薄膜等的反射率測定、膜厚測定、透過率測定。

液晶彩色濾鏡
光學薄膜

適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產生的反射率測定。

棱鏡
反射鏡

技術參數(shù)

反射率測定			透過率測定^*1	45度反射測定^*1
名稱	近紅外顯微分光測定儀			近紅外顯微分光測定儀用透過測定選配件	近紅外顯微分光測定儀用 45度反射測定選配件
型號	USPM-RU-W
測定波長	380～1050nm
測定方法	對參照樣品的比較測定			對1*0%基準的透過率測定	對參照樣品的比較測定
測定范圍	參照下列對物鏡的規(guī)格			約ø2.0mm
測定再現(xiàn)性（3σ）^*2	反射率測定	使用10×、20×物鏡時	±0.02[%]以下（430-1010nm）、 ±0.2[%]以下（上述以外）	±1.25[%]以下（430-1010nm）、 ±5.0[%]以下（左側記載除外）
		使用40×物鏡時	±0.05[%]以下（430-950nm）、 ±0.5[%]以下（上述以外）
	厚膜測定	±1%		-
波長顯示分解能	1nm
照明附件	專用鹵素燈光源　 JC12V 55W（平均壽命700h）
位移受臺	承載面尺寸：200(W)×200(D)mm 承重：3 kg 工作范圍：(XY) ±40mm, (Z)125mm
傾斜受臺	－			承載面尺寸：　140(W)×140(D)mm 承重：　1 kg 工作范圍：(XT) ±1°, (YT) ±1°
裝置質量	主體：約26 kg（PC除外）			主體：約31 kg（PC除外）^*3
	控制電源箱：約6.7kg
裝置尺寸	主體部位：360(W)×446(D)×606(H)mm			主體部位：360(W)×631(D)×606(H)mm
	控制電源箱：250(W)×270(D)×125(H)mm
電源規(guī)格	輸入規(guī)格：100-240V (110VA) 50/60Hz
使用環(huán)境	水平無振動的場所溫度：15～30℃ 濕度：15～60％RH（無結露）

*1 選件組件　*2 本社測定條件下的測定　*3 裝配透過率測定套件與45度反射測定套件的總重量為33kg。

對物鏡

型號	USPM-OBL10X	USPM-OBL20X	USPM-OBL40X
倍率	10x	20x	40x
NA	0.12	0.24	0.24
測定范圍^*4	70μm	34μm	17μm
工作距離	14.3mm	4.2mm	2.2mm
樣品的曲率半徑	±5mm～	±1mm～	±1mm～

*4 點徑

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奧林巴斯鏡片反射率測定儀USPM-RU-W

測定物體顏色

測定透過率　(選配)

測定入射角為45度的反射率（選配）

域的高精度&高速測定

實現(xiàn)高速測定

十分適用于測定細小部件、鏡片的反射率

測定反射率時，不需要背面防反射處理

可選擇的膜厚測定方法

峰谷法

傅里葉轉換法

曲線調整法

多樣化應用

通過測定球面、非球面的鏡片、濾鏡、反射鏡等光學元件的反射率，進行涂層評價、物體顏色測定、膜厚測定。

適用于LED反射鏡、半導體基板等微小電子部件的反射率測定、膜厚測定。

適用于平面光學元件、彩色濾鏡、光學薄膜等的反射率測定、膜厚測定、透過率測定。

適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產生的反射率測定。

對物鏡

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奧林巴斯鏡片反射率測定儀USPM-RU-W

測定物體顏色

測定透過率 (選配)

測定入射角為45度的反射率（選配）

域的高精度&高速測定

實現(xiàn)高速測定

十分適用于測定細小部件、鏡片的反射率

測定反射率時，不需要背面防反射處理

可選擇的膜厚測定方法

峰谷法

傅里葉轉換法

曲線調整法

多樣化應用

通過測定球面、非球面的鏡片、濾鏡、反射鏡等光學元件的反射率，進行涂層評價、物體顏色測定、膜厚測定。

適用于LED反射鏡、半導體基板等微小電子部件的反射率測定、膜厚測定。

適用于平面光學元件、彩色濾鏡、光學薄膜等的反射率測定、膜厚測定、透過率測定。

適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產生的反射率測定。

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測定透過率　(選配)

十分適用于測定細小部件、鏡片的反射率

通過測定球面、非球面的鏡片、濾鏡、反射鏡等光學元件的反射率，進行涂層評價、物體顏色測定、膜厚測定。

適用于LED反射鏡、半導體基板等微小電子部件的反射率測定、膜厚測定。

適用于平面光學元件、彩色濾鏡、光學薄膜等的反射率測定、膜厚測定、透過率測定。

適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產生的反射率測定。